雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER 參考價(jià)：面議
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS 參考價(jià)：面議
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS，設(shè)計(jì)減去了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si 參考價(jià)：面議
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si還可測量藍(lán)寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅(jiān)固、通用，可容納和測量直徑達(dá)8英寸的500毫米粗錠。
各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計(jì) 參考價(jià)：面議
各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計(jì)是一個(gè)重大的突破，光學(xué)各向異性測量技術(shù)更快、更準(zhǔn)確、收集更多的數(shù)據(jù)。
Strokes 偏振計(jì) 參考價(jià)：面議
Strokes 偏振計(jì)在光學(xué)元件表征、光學(xué)系統(tǒng)光束輸出特性、天文學(xué)、光纖制造、光源和激光質(zhì)量控制等方面有著廣泛的應(yīng)用。
圓二色性測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
圓二色性測量系統(tǒng)使用垂直光路直接從標(biāo)準(zhǔn)孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到試管中進(jìn)行篩選，也不需要在分析過程中清洗試管
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-GEN 參考價(jià)：面議
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-GEN，液晶基板應(yīng)力分布測量，大型液晶基板應(yīng)力分布測量，應(yīng)力測量。Hinds，ExicorGEN5， ExicorGEN6...
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA 參考價(jià)：面議
雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。
應(yīng)力雙折射 參考價(jià)：面議
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds l...
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Hinds 儀器的應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有足夠的多樣性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)...
應(yīng)力雙折射檢測 參考價(jià)：面議
在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片...
光學(xué)玻璃應(yīng)力測量 參考價(jià)：面議
光學(xué)玻璃應(yīng)力測量占地小-大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間；平臺設(shè)計(jì)-使可測量面積盡可能大；強(qiáng)大的自動化-質(zhì)量階段和硬件正常運(yùn)行時(shí)間。
美國Hinds Instruments 參考價(jià)：面議
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)，具生產(chǎn)價(jià)值的測量雙折射的能力...
殘余應(yīng)力檢測 參考價(jià)：面議
150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品，用于殘余應(yīng)力檢測。該應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量，也可...
殘余應(yīng)力測量 參考價(jià)：面議
該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進(jìn)探測和解調(diào)電子來測量光學(xué)如何改變偏振狀態(tài)。這就導(dǎo)致了一個(gè)偏振狀態(tài)相對于另一個(gè)偏振狀態(tài)的光延遲測量結(jié)果是90°。...
Hinds 參考價(jià)：面議
美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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